Mikroskopia Sił Atomowych (AFM), Mikroskopia optyczna, Profilometria

Mikroskop Sił Atomowych AFM firmy Veeco (USA) NanoScope V

Mikroskop umożliwia odwzorowanie powierzchni ciał stałych w powiększeniu i w trzech wymiarach a także zobrazowanie właściwości fizykochemicznych badanych materiałów. Budowa mikroskopu daje możliwości analizy w cieczach oraz w podwyższonych temperaturach.

Szczegółowe informacje o mikroskopie sił atomowych

Profilometr Contour GT firmy Veeco (USA)

Profilometr optyczny umożliwia szybkie i bezkontaktowe odwzorowanie powierzchni w trzech wymiarach w niedużym powiększeniu. Jest wykorzystywany do pomiarów materiałów o bardzo dużej i bardzo małej szorstkości. Wykonuje analizy na dużych powierzchniach próbki.

Szczegółowe informacje o profilometrze

Mikroskop optyczny AZ100M firmy Nikon (Japonia)

Mikroskop optyczny AZ100M umożliwia wykonanie zdjęć o dużej rozdzielczości i niespotykanej w innych mikroskopach optycznych głębi ostrości.

Szczegółowe informacje o mikroskopie optycznym

Mikroskop optyczny metalurgiczny MA200 firmy Nikon (Japonia)

Mikroskop optyczny MA200 jest mikroskopem z odwróconą optyką. Wyposażony został w przystawkę konfokalną współpracujacą z trzema laserami oraz lampę fluorescensyjną. Umożliwia wykonanie zdjęć o dużej rozdzielczości, dużej głębi ostrości oraz w jasnym i ciemnym polu.

Szczegółowe informacje

Kontakt

mgr Krzysztof Skrzypiec

Wydział Chemii, Instytut Nauk Chemicznych UMCS, pok. 22
Plac Marii Curie-Skłodowskiej 3, 20-031 Lublin

tel. (81) 537-55-89
e-mail: krzysztof.skrzypiec@umcs.pl